连接器测试程序的三个考虑因素！

连接器测试程序的三个组成部分为调节、曝光和测量，在任何模拟连接器应用程序的尝试中都必须考虑这些组件中的每一个流程，本文鑫鹏博连接器厂家主要为大家分享连接器测试程序的三个考虑因素！

一、调节是旨在将连接器置于代表应用程序使用寿命的特定阶段过程，最常见和最直接的调节程序是连接器的配合和拔出。而使用连接器的基本原因是需要可分离性，连接器出于各种原因的配合和拔出，出于制造原因、在组装完整系统之前对各种组件或子系统进行测试，或者为了促进系统的升级或维修，可能需要可分离性。此类应用通常需要少量的配合循环，因为便携产品可能需要可分离性。

连接器的配合和拔出至少模拟两种应用条件：耐久性和配合/拔出力作为产品寿命的参数，耐用性即磨损过程导致的配合和拔出对接触光洁度的影响可以说是两种模拟中更重要的，根据本指南模拟应用需要确定有多少配合周期代表该应用，一该数字决定了属于规范范围内的应用范围。

二、连接器测试曝光条件的选择要复杂得多，包括两个主要方面，即与应用环境相关的暴露条件，以及与预期产品寿命相关的暴露持续时间。暴露条件的问题是应用环境模拟的适当性，对持续时间的关注是可用于定义测试时间和现场寿命之间关系的知识水平，换句话说就是加速因子。

就环境和持续时间而言，应用热条件的模拟相对简单，将测试温度提高到超过应用环境的温度可以加速该过程。而腐蚀过程的模拟要复杂得多，在给定应用环境中起作用的腐蚀机制取决于环境的组成、温度和湿度，腐蚀暴露被视为正确模拟贵金属成品连接器的应用环境。

然而，评估机械稳定性的暴露并没有很好的定义，冲击以及振动这两种主要的暴露方式，都没有很好地描述应用环境的模拟，这种限制意味着加速因子不可用，在确定连接器测试结果的价值时必须考虑限制的影响。

三、连接器测试协议中最常见及最重要的测量是接触电阻，特别是低电平接触电阻(LLCR)。本质上，LLCR测量是在足够低的开路电压（20 毫伏）下进行的，在该电压下，任何表面薄膜都不会发生电气中断。因此，电阻测量对表面薄膜和污染物的任何影响都很大，使用电阻测量的两种方法是测试期间接触电阻的允许变化，以及测试后最大接触电阻的失效标准。由于普遍缺乏接触电阻的适当失效标准的知识，连接器测试协议使用允许的变化Delta R方法。

连接器性能评估需要对测试协议进行更复杂的评估，例如，如果产品生命周期内的预期产品匹配周期数为500，并且测试规范条件要求100个周期，则无法做出决定。另一方面，如果协议要求500或1000次循环，则测试验证了对耐久性的性能评估的接受。

虽然连接器测试程序过于昂贵和耗时，不能充分利用此类程序可以提供的信息，测试协议应包括尽可能广泛的连接器应用。但好处是提供接触电阻数据分布而不是最大Delta R，以便对接触电阻稳定性进行更明确的统计评估。

此外，连接器产品的最终选择可以通过连接器制造商提供的测试和最终规格表来确定，应了解技术规范做出最明智和最有见地的决定，并最终选择最佳性能的连接器产品。

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